上海佑科UV754N掃描型紫外可見分光光度計
波長范圍：200-1000nm；波長準確度：±2nm；光譜帶寬：4nm
產品介紹
新款紫外分光光度計UV754N是一種能適應現代分析實驗室運用光譜分析法對物質進行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廠泛應用于醫藥衛生、環境保護、食品工業、石油化工、生物化學、大專院校及質量控制等部門
儀器特點
.采用51微機系統，可存儲標準曲線和測試數據
.儀器具有自我故障診斷功能
.提供斷電保護
.儀器內置定量分析軟件，方便用戶操作使用
.備有標準打印機接口和RS-232通訊口
主要功能
通過簡單的參數設定，方便地進行光度分析、定量分析、動力學測試、光譜掃描、多波長測試、DNA/蛋白質分析。
技術參數
波長驅動:自動
波長范圍:190-1100nm
波長準確度:±2nm
波長重復性:0.5nm
光譜帶寬:4nm
透色比準確度:±0.5%T
透色比重復性:0.2%T
透色比范圍:0.0-200%T
吸光度范圍:-0.030-3.0A
雜散光:0.3%T@220nm、360nm
穩定性:±0.002A/小時
顯示系統：128*64位點陣液晶顯示
Rs232通訊:有
打印機:配備
分析軟件:支持
