上海佑科UV754N掃描型紫外可見分光光度計

產(chǎn)品介紹

新款紫外分光光度計UV754N是一種能適應(yīng)現(xiàn)代分析實驗室運用光譜分析法對物質(zhì)進行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廠泛應(yīng)用于醫(yī)藥衛(wèi)生、環(huán)境保護、食品工業(yè)、石油化工、生物化學(xué)、大專院校及質(zhì)量控制等部門

儀器特點

.采用51微機系統(tǒng)，可存儲標準曲線和測試數(shù)據(jù)

.儀器具有自我故障診斷功能

.提供斷電保護

.儀器內(nèi)置定量分析軟件，方便用戶操作使用

.備有標準打印機接口和RS-232通訊口

主要功能

通過簡單的參數(shù)設(shè)定，方便地進行光度分析、定量分析、動力學(xué)測試、光譜掃描、多波長測試、DNA/蛋白質(zhì)分析。

技術(shù)參數(shù)

波長驅(qū)動:自動
波長范圍:190-1100nm
波長準確度:±2nm
波長重復(fù)性:0.5nm
光譜帶寬:4nm
透色比準確度:±0.5%T
透色比重復(fù)性:0.2%T
透色比范圍:0.0-200%T
吸光度范圍:-0.030-3.0A
雜散光:0.3%T@220nm、360nm
穩(wěn)定性:±0.002A/小時
顯示系統(tǒng)：128*64位點陣液晶顯示
Rs232通訊:有
打印機:配備
分析軟件:支持